XDL系列采用能量色散X射線熒光（EDXRF）技術，通過高穩(wěn)定性微型X射線管激發(fā)樣品表面，使待測元素產生特征X射線熒光。探測器接收并分析不同元素的特征譜線能量與強度，結合菲希爾有的FISCHERSCOPE®分析軟件，實現(xiàn)對鍍層厚度及成分的精確反演計算。

應用領域

電鍍與表面處理：精確測量Ni、Cr、Au、Ag、Sn、Zn、Cu等單層或多層金屬鍍層厚度。

PCB與半導體：檢測焊盤鍍金、OSP涂層、ENIG（化學鎳金）等關鍵工藝參數(shù)。

汽車零部件：評估發(fā)動機部件、緊固件、連接器的防腐鍍層質量。

珠寶與貴金屬：無損鑒定K金純度、鍍層厚度及合金成分。

德國菲希爾XDL系列X射線熒光測厚儀集精密光學、先進探測技術與智能軟件于一體，代表了當前非破壞性涂層分析較高水平。